掃描電鏡（ScanningElectronMicroscope，SEM）是一種高分辨率的電子顯微鏡，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域。其工作原理基于電子與物質(zhì)間的相互作用，通過(guò)發(fā)射電子束并使其在樣品表面掃描，從而激發(fā)樣品產(chǎn)生各種物理信號(hào)，這些信號(hào)再被收集、放大并轉(zhuǎn)換成圖像。

　　在工作時(shí)，掃描電鏡的電子槍發(fā)射出電子束，這些電子在加速電壓的作用下，經(jīng)過(guò)電磁透鏡聚焦成細(xì)小的束斑。隨后，電子束在掃描線圈的作用下，按一定規(guī)律在樣品表面進(jìn)行掃描。當(dāng)電子束照射到樣品表面時(shí)，會(huì)與樣品中的原子發(fā)生相互作用，激發(fā)出二次電子、背散射電子等信號(hào)。這些信號(hào)被相應(yīng)的探測(cè)器接收，并經(jīng)過(guò)放大處理后，最終轉(zhuǎn)換成圖像顯示在屏幕上。

　　結(jié)構(gòu)組成方面，掃描電鏡主要由電子光學(xué)系統(tǒng)、掃描系統(tǒng)、信號(hào)收集系統(tǒng)、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng)以及電源系統(tǒng)六大部分組成。其中，電子光學(xué)系統(tǒng)負(fù)責(zé)產(chǎn)生和聚焦電子束；掃描系統(tǒng)控制電子束在樣品表面的掃描；信號(hào)收集系統(tǒng)接收并放大樣品激發(fā)出的信號(hào)；圖像顯示和記錄系統(tǒng)將放大后的信號(hào)轉(zhuǎn)換成圖像并記錄下來(lái)；真空系統(tǒng)確保鏡筒和樣品室中的高真空環(huán)境，以避免電子束與氣體分子發(fā)生碰撞；電源系統(tǒng)為整個(gè)儀器提供所需的電力。

　　綜上所述，掃描電鏡憑借其的工作原理和精細(xì)的結(jié)構(gòu)組成，在微觀世界的探索中發(fā)揮著不可替代的作用。